2024年3月15-19日《可靠性工程師》（高級(jí)）
發(fā)布日期：【2024-03-13 10:46:02】 瀏覽次數(shù)：
關(guān)于舉辦“產(chǎn)品可靠性設(shè)計(jì)、試驗(yàn)、失效分析應(yīng)用技術(shù)及案例分析”暨《可靠性工程師》（高級(jí)）職業(yè)技術(shù)網(wǎng)絡(luò)專題培訓(xùn)班的通知
各相關(guān)單位：
隨著電子電器產(chǎn)品的體積與重量日益縮小，技術(shù)含量不斷擴(kuò)大、智能化程度成倍提高，對(duì)電子電器產(chǎn)品可靠性的要求已成為衡量產(chǎn)品質(zhì)量最重要的技術(shù)指標(biāo)之一。可靠性不僅在國(guó)防、航天、航空等尖端技術(shù)領(lǐng)域倍受關(guān)注，在工業(yè)、民用電子等領(lǐng)域也同樣得到重視。國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)委近期公布了GB2423、GB2424 等相關(guān)一系列標(biāo)準(zhǔn)的更新，進(jìn)一步規(guī)范化現(xiàn)在可靠性試驗(yàn)、測(cè)試等相關(guān)內(nèi)容。重視程度可見一斑。
為進(jìn)一步加強(qiáng)各企事業(yè)單位相關(guān)人員針對(duì)產(chǎn)品可靠性方面的技術(shù)能力及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的應(yīng)用理解。工業(yè)和信息化部電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究院培訓(xùn)中心定于2024年3月下旬線上舉辦“產(chǎn)品可靠性設(shè)計(jì)、試驗(yàn)、失效分析應(yīng)用技術(shù)及案例分析”暨《可靠性工程師》（高級(jí)）職業(yè)技術(shù)網(wǎng)絡(luò)專題培訓(xùn)班，具體事宜通知如下：
一、培訓(xùn)內(nèi)容
電子產(chǎn)品失效分析經(jīng)典案例
1、失效分析全過程案例
2、靜電放電失效機(jī)理講解與案例分析
3、閂鎖失效機(jī)理講解與案例分析
4、過電失效類失效機(jī)理講解與案例分析
5、機(jī)械應(yīng)力類失效機(jī)理講解與案例分析
6、熱變應(yīng)力類失效機(jī)理講解與案例分析
7、結(jié)構(gòu)缺陷類失效機(jī)理講解與案例分析
8、材料缺陷類失效機(jī)理講解與案例分析
9、工藝缺陷類失效機(jī)理講解與案例分析
10、應(yīng)用設(shè)計(jì)缺陷類失效機(jī)理講解與案例分析
11、污染腐蝕類失效機(jī)理講解與案例分析
12、元器件固有機(jī)理類失效機(jī)理講解與案例分析
13、面目全非的樣品的分析
可靠性設(shè)計(jì)與分析
1、電子元器件的選擇，主要失效機(jī)理、應(yīng)用可靠性設(shè)計(jì)規(guī)則
A電子元器件的選用與控制 B元器件失效的內(nèi)因與外因
C電阻器的種類、結(jié)構(gòu)、失效模式、失效機(jī)理、使用規(guī)則及案例
D瓷介質(zhì)電容器的種類、結(jié)構(gòu)、失效模式、失效機(jī)理、使用規(guī)則及案例
E鋁電解電容器的種類、結(jié)構(gòu)、失效模式、失效機(jī)理、使用規(guī)則及案例
F繼電器的種類、結(jié)構(gòu)、失效模式、失效機(jī)理、使用規(guī)則及案例
G連接器與開關(guān)的種類、結(jié)構(gòu)、失效模式、失效機(jī)理、使用規(guī)則及案例
H諧振器與振蕩器的種類、結(jié)構(gòu)、失效模式、失效機(jī)理、使用規(guī)則及案例
I分立半導(dǎo)體器件的種類、結(jié)構(gòu)、失效模式、失效機(jī)理、使用規(guī)則及案例
J集成電路的種類、結(jié)構(gòu)、失效模式、失效機(jī)理、使用規(guī)則及案例
2、整機(jī)級(jí)可靠性設(shè)計(jì)技術(shù)方法
A熱設(shè)計(jì) B電磁兼容設(shè)計(jì) C“三防”設(shè)計(jì)
D耐振設(shè)計(jì) E安全性設(shè)計(jì) F接地與布線的設(shè)計(jì)
3、故障模式、影響及危害度分析
A概述與特點(diǎn)
B GJB/Z 1391—2006規(guī)定的功能及硬件FMECA：步驟與實(shí)施，示例
C GJB/Z 1391—2006規(guī)定的過程FMECA：步驟與實(shí)施，示例
D QS 9000規(guī)定的潛在失效模式影響分析
4、故障樹分析
A概述 B故障樹中常用的術(shù)語與符號(hào) C FTA的一般步驟
D確定頂事件 E建立故障樹 F故障樹的規(guī)范化、簡(jiǎn)化和模塊分解
G故障樹的定性分析 H故障樹的定量分析 I FTA應(yīng)用實(shí)例
可靠性試驗(yàn)與評(píng)價(jià)
1、可靠性試驗(yàn)數(shù)據(jù)的分析與處理
A數(shù)據(jù)的收集與初步整理分析 B分布類型的檢驗(yàn)
C連續(xù)型分布的參數(shù)估計(jì) D離散型分布的參數(shù)估計(jì)
2、環(huán)境應(yīng)力效應(yīng)與典型電子產(chǎn)品失效機(jī)理
A應(yīng)力與失效機(jī)理的認(rèn)識(shí) B環(huán)境應(yīng)力試驗(yàn)的作用和分類 C環(huán)境應(yīng)力的效應(yīng)
D高溫的環(huán)境效應(yīng)及案例 E低溫的環(huán)境效應(yīng)及案例F溫度變化的環(huán)境效應(yīng)及案例
G濕度及含鹽氣氛的環(huán)境效應(yīng)及案例 H機(jī)械應(yīng)力的環(huán)境效應(yīng)及案例
I綜合應(yīng)力的環(huán)境效應(yīng) J失效機(jī)理歸納 K半導(dǎo)體的主要失效機(jī)理
L電化學(xué)腐蝕及遷移 M電遷移 N熱疲勞 O應(yīng)力遷移 P機(jī)械疲勞
3、加速試驗(yàn)技術(shù)
A加速應(yīng)力試驗(yàn)概述 B加速試驗(yàn)的分類 C 加速的模型
D恒定應(yīng)力加速壽命試驗(yàn)的統(tǒng)計(jì)分析 E基于退化數(shù)據(jù)的可靠性數(shù)據(jù)分析
F耐久性數(shù)據(jù)分析 G 加速試驗(yàn)方案的設(shè)計(jì) H加速壽命試驗(yàn)數(shù)據(jù)圖估法的應(yīng)用
I加速壽命試驗(yàn)關(guān)鍵指標(biāo)計(jì)算案例 J加速試驗(yàn)方法的局限性
4、各門類電子元器件的定性可靠性評(píng)價(jià)方法
A元件類 B器件類
