0603片式電阻器在電表組裝完成后的功能測(cè)試中報(bào)告批次性故障，定位后發(fā)現(xiàn)是此電阻器阻值增大，且不穩(wěn)定的情況。收集到用于失效分析的樣品如下表4-7（良品和失效品不是同一批次）。
表4-7 樣品的具體信息
| 序號(hào) |
狀態(tài) |
數(shù)量（只） |
編號(hào) |
| 1 |
未使用良品 |
5 |
G1#～G5# |
| 2 |
已從板上焊接下來的失效品 |
5 |
F1#～F5# |
| 3 |
板上失效品 |
5 |
F6#～F10# |
1）外觀觀察
對(duì)樣品進(jìn)行外觀檢查，樣品外觀未觀察到明顯的異常。
2）X-RAY觀察
對(duì)所有樣品進(jìn)行X-RAY觀察，未觀察到面電極有空洞和斷開等明顯的異常，典型的形貌見圖4-30。
3） 電參數(shù)測(cè)試
對(duì)所有樣品電阻值(R)進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試結(jié)果見表4-8。
表4-8 樣品電阻值測(cè)試結(jié)果
從表4-8可以看出：良品的電阻值都在合格范圍之內(nèi)；已焊接下來的失效品其電阻值都大于合格判據(jù)；在板上的樣品F7#、F8#、F10#電阻值大于合格判據(jù)，并且F8#前后兩次測(cè)試阻值都相差比較大，而其他兩樣品F6#、F9#的電阻值在合格判據(jù)之內(nèi)。
4）金相切片觀察
對(duì)G1#、F1#、F5#、F7#樣品進(jìn)行金相切片觀察。
良品典型的金相切片形貌見圖4-31，未見到明顯的異常：面電極延伸到陶瓷的端頭，端電極可以見到明顯的Ni層和Sn層。
而F1#、F5#、F7#樣品可以見到：端電極除可以見到Ni層和Sn層外，在面電極這一邊的端電極最里面還有一Ag層，并且F1#、F7#還可以見到端電極內(nèi)部Ag層和面電極之間有斷開，形貌見圖4-32、圖4-33，并且在研磨過程觀察到此斷開位置一直存在；而F5#樣品未觀察到明顯的異常，形貌見圖4-34。
F1#樣品能見到面電極有明顯的偏移，即一邊面電極非?？拷鄳?yīng)的端頭，而另外一端面電極遠(yuǎn)離相應(yīng)的端頭，形貌見圖4-35。
5）SEM觀察
對(duì)F5#樣品進(jìn)行SEM觀察。
F5#樣品面電極沒有觀察到異常，形貌見圖4-36；面電極和電阻膜之間的連接沒有觀察到異常，形貌見圖4-37。但是端電極之間的Ag層和面電極連接有明顯的異常：Ag層與面電極連接部位之間為有機(jī)物連接，并沒有見到Ag層之間與面電極相連的形貌，見圖4-38。
同時(shí)把G1#、F1#、F5#過蝕刻后，測(cè)量面電極和端電極之間的連接狀態(tài)，發(fā)現(xiàn)G1#、F1#連接良好；而F5#樣品面電極和端電極之間存在連接不穩(wěn)定的狀態(tài)，電阻值從幾十歐到幾十千歐變化。
6）綜合分析
樣品的失效模式表現(xiàn)為電阻值增大且不穩(wěn)定，和電阻開路兩種失效模式。
由剖面金相觀測(cè)可知：
良品批次電阻膜的引出結(jié)構(gòu)：面電極（Ag）、Ni、Sn；
失效品批次電阻膜的引出結(jié)構(gòu)：面電極（Ag）、Ag、Ni、Sn。
失效品的面電極有偏向某端頭的缺陷，其中面電極距離端頭遠(yuǎn)的一端，面電極大部分被保護(hù)層覆蓋，因此面電極與銀層之間僅小面積連接；但開路樣品（5#）不存在面電極偏移的情況，剖面金相觀測(cè)未發(fā)現(xiàn)面電極與銀層存在連接不良的問題。
SEM觀測(cè)可見：
失效批次的樣品與面電極連接的銀層是銀導(dǎo)電膠；
開路樣品（5#）的銀導(dǎo)電膠中的片狀銀顆粒與面電極之間沒有良好接觸。
電分析可見：
研磨制樣的開路樣品（5#）端電極最外層與面電極之間存在電連接不良的現(xiàn)象。而失效批次的其他樣品在剖面金相觀測(cè)中，面電極與銀層沒有觀測(cè)到電連接不良的引出端未見電連接不良的現(xiàn)象。
因此，分析認(rèn)為：
電阻增大的失效樣品是由于面電極偏移，導(dǎo)致面電極大部分被保護(hù)層覆蓋，因此面電極與銀導(dǎo)電膠之間僅小面積連接，在焊接過程中，由于熱應(yīng)力的作用而加劇了面電極與銀導(dǎo)電膠連接不良的缺陷；呈現(xiàn)開路的失效樣品是由于銀導(dǎo)電膠中片狀銀顆粒未能與面電極形成良好電連接。
對(duì)比良品和失效品引出結(jié)構(gòu)，可以推測(cè)：失效批次由于面電極的偏移，引入了導(dǎo)電膠作為過渡層。
7）結(jié)論
良品批次引出結(jié)構(gòu)為：面電極、鎳、錫；失效批次引出結(jié)構(gòu)為面電極、銀導(dǎo)電膠、鎳、錫；
呈現(xiàn)電阻增大且電阻不穩(wěn)定失效模式的樣品是由于面電極偏移，導(dǎo)致面電極大部分被保護(hù)層覆蓋，引起面電極與導(dǎo)電膠小面積連接而存在電連接不良的缺陷，焊接熱應(yīng)力加劇了電連接不良的缺陷；
表現(xiàn)為開路模式的失效樣品是由于導(dǎo)電膠片狀銀顆粒與面電極之間沒有形成良好電連接引起的。
